PATENT
EP3695194
Elektromagnetisches Messsystem für die Erfassung von Länge und Winkel basierend auf dem Magnetoimpedanzeffekt
Court proceedings (1)
- 2026-09-14Vasiloiu, Victor, Tutzu, Paul v. Dr. Johannes Heidenhain GmbH
Elektromagnetisches Messsystem für die Erfassung von Länge und Winkel basierend auf dem Magnetoimpedanzeffekt